ASTM F 1996-2006 薄膜开关电路系统银迁移的标准试验方法
作者:标准资料网
时间:2024-05-03 17:18:57
浏览:9210
来源:标准资料网
下载地址: 点击此处下载
【英文标准名称】:StandardTestMethodforSilverMigrationforMembraneSwitchCircuitry
【原文标准名称】:薄膜开关电路系统银迁移的标准试验方法
【标准号】:ASTMF1996-2006
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2006
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:薄膜开关;渗移;银;试验方法
【英文主题词】:Membraneswitches;Migrations;Silver;Testmethods
【摘要】:
【中国标准分类号】:L57
【国际标准分类号】:77_120_99
【页数】:2P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:薄膜开关电路系统银迁移的标准试验方法
【标准号】:ASTMF1996-2006
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2006
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:薄膜开关;渗移;银;试验方法
【英文主题词】:Membraneswitches;Migrations;Silver;Testmethods
【摘要】:
【中国标准分类号】:L57
【国际标准分类号】:77_120_99
【页数】:2P;A4
【正文语种】:英语
下载地址:
点击此处下载