IEEE 1149.7-2009 缩减管脚和增强功能试验存取端口和边界扫描架构
作者:标准资料网
时间:2024-05-16 03:37:50
浏览:9328
来源:标准资料网
下载地址: 点击此处下载
【英文标准名称】:Reduced-pinandenhanced-functionalitytestaccessportandboundary-scanarchitecture
【原文标准名称】:缩减管脚和增强功能试验存取端口和边界扫描架构
【标准号】:IEEE1149.7-2009
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2009
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国电气电子工程师学会(US-IEEE)
【起草单位】:IEEE
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:向后兼容;数据处理;定义;电子工程;电子设备及元件;硬件;集成电路;销(钉);销钉;印制电路;开关电路;试验
【英文主题词】:Backwardcompatibility;Dataprocessing;Definitions;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Hardware;Integratedcircuits;Pins;Pins(nails);Printedcircuits;Switchingcircuits;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L65
【国际标准分类号】:35_200
【页数】:1037P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:缩减管脚和增强功能试验存取端口和边界扫描架构
【标准号】:IEEE1149.7-2009
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2009
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国电气电子工程师学会(US-IEEE)
【起草单位】:IEEE
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:向后兼容;数据处理;定义;电子工程;电子设备及元件;硬件;集成电路;销(钉);销钉;印制电路;开关电路;试验
【英文主题词】:Backwardcompatibility;Dataprocessing;Definitions;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Hardware;Integratedcircuits;Pins;Pins(nails);Printedcircuits;Switchingcircuits;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L65
【国际标准分类号】:35_200
【页数】:1037P;A4
【正文语种】:英语
下载地址:
点击此处下载