标准名称：	康铜电阻合金化学分析方法 硅钼兰光度法测定硅量
英文名称：	Method for chemical analysis of constantan resistance alloy The molybdosilicate blue photometric method for the deternination of silicon content
中标分类：	仪器、仪表 >> 仪器、仪表综合 >> 仪器、仪表用材料和元件
ICS分类：
替代情况：	原标准号ZB N05013.7-1989
发布部门：	国家机械工业局
发布日期：	1999-08-06
实施日期：	2000-01-01
首发日期：	1900-01-01
作废日期：	1900-01-01
提出单位：	仪表功能材料标准化技术委员会
归口单位：	仪表功能材料标准化技术委员会
起草单位：	重庆仪表材料研究所、四川仪表一厂
起草人：	苏明灿、梁培德等
出版社：	机械工业出版社
出版日期：	2000-01-01
页数：	4 页
批文号：	国机管[1999]419

本标准适用于康铜电阻合金中硅量的测定。测定范围:0.010%～0.12% 。

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【英文标准名称】:Fixedcapacitorsforuseinelectronicequipment-Part21-1:Blankdetailspecification:Fixedsurfacemountmultilayercapacitorsofceramicdielectric,Class1-AssessmentlevelEZ;Corrigendum1
【原文标准名称】:电子设备用固定电容器.第21-1部分:空白详细规范:1级陶瓷介质的表面安装固定多层电容器.评定级别EZ.勘误1
【标准号】:IEC60384-21-1Corrigendum1-2004
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2004-09
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC40
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:质量保证体系;控制图;表面安装设备;电容器;空白格式;电子工程;详细规范;片式电容器;质量评定;塑料电容器;电子仪器;试验条件;评定等级;固定电容器;直流电压;质量评定程序;表面安装;测量技术;介质材料;陶瓷电容器;试验;特性;质量;检验;多层电容器;元部件;测量;电子设备及元件;电气工程;陶瓷;质量保证;作标记
【英文主题词】:Appraisallevel;Assessmentlevel;Blankforms;Capacitors;Ceramiccapacitors;Ceramics;Checks;Chipcapacitors;Chips;Components;Controlcharts;Detailspecification;Dielectricmaterials;Dimensions;Directvoltage;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Electronicinstruments;Erecting(constructionoperation);Fixedcapacitors;Inspection;Marking;Measurement;Measuringtechniques;Multilayercapacitors;Plasticscapacitors;Properties;Quality;Qualityassessment;Qualityassessmentprocedures;Qualityassurance;Qualityassurancesystems;Ratedvoltage;Semiconductordevices;SMD;Specification(approval);Surfacemounting;Testing;Testingconditions
【摘要】:ThisisTechnicalCorrigendum1toIEC60384-21-1-2004(FixedcapacitorsforuseinelectronicequipmentPart21-1:Blankdetailspecification:Fixedsurfacemountmultilayercapacitorsofceramicdielectric,Class1-AssessmentlevelEZ)
【中国标准分类号】:L11
【国际标准分类号】:31_060_20
【页数】:2P.;A4
【正文语种】:英语